技術文章您當前的位置：首頁 > 技術文章 > 如何提高國產網(wǎng)絡分析儀的測試精度？
如何提高國產網(wǎng)絡分析儀的測試精度？
日期：2022-09-13瀏覽：2294次
國產網(wǎng)絡分析儀可以分為標量（只包含幅度信息）和矢量（包含幅度和相位信息）兩種分析儀。標量分析儀曾一度因其結構簡單，成本低廉而廣泛使用。矢量分析儀可以提供更好的誤差校正和更復雜的測量能力。隨著技術的進步，集成度和計算效率的提高，成本的降低，使用越來越普及。
如何提高國產網(wǎng)絡分析儀的測試精度：
誤差來源：
1）系統(tǒng)誤差：由于測試儀表原理或測試設備引起，變化有規(guī)律；能夠被定量描述；可通過校準消除。
2）隨機誤差：設備噪聲、開關重復性、連接器重復性，隨時間隨機變化；不能通過校準消除。
3）飄移誤差：主要由溫度變化造成，通過定期計量消除。
關于這些誤差，一般可通過定期計量來消除；在每次測試時正確合理使用校準件進行校準，也是可以提高測試精度的。
國產網(wǎng)絡分析儀的測量校準：
既然說校準，肯定是為了消除誤差。那么網(wǎng)分的誤差來自于哪些方面呢？
測量誤差主要包括：隨機誤差、系統(tǒng)誤差、漂移誤差。
系統(tǒng)誤差則包括網(wǎng)絡儀內部測試裝置的系統(tǒng)響應和外部測試裝置的系統(tǒng)響應。
漂移誤差由于溫度引起的。它可以通過其它校準來去除。一般在測試設備可使用溫度范圍的中值進行使用可以將該誤差降到更低。
隨機誤差則包括測試裝置的穩(wěn)定性和儀器的穩(wěn)定性。其主要組成為設備噪聲，例如采樣噪聲，IF底噪等，切換重復性以及接口重復性。當使用網(wǎng)分時，由于隨機性所以無法通過校準去除，可以通過提升信號源功率，降低IF帶寬或者多次掃頻求平均的方法來降低噪聲誤差。
所以校準主要彌補的是系統(tǒng)和漂移誤差。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
- ARC電池絕熱量熱儀/熱安全性能
- 德國GMC-I高美
聯(lián)系我們
在線客服：
版權所有：上海堅融實業(yè)有限公司 滬ICP備12024467號-2
傳真： 技術支持：化工儀器網(wǎng)
公司地址：上海市閔行區(qū)聯(lián)明路555號
上海堅融實業(yè)有限公司主營產品:吉時利KEITHLEY源表,吉時利KEITHLEY高阻表,是德KEYSIGHT高阻表,DESCO靜電電阻測試儀
網(wǎng)站首頁| 公司簡介| 產品中心| 新聞資訊| 技術文章| 在線商店| 聯(lián)系我們| 后臺管理|
