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安捷倫萬(wàn)用表測(cè)量小電阻
日期：2012-08-02瀏覽：4853次
安捷倫萬(wàn)用表測(cè)量小電阻
摘要：提出用“四線”和“饋線補(bǔ)償法”測(cè)量小電阻的方法，并給出了實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
關(guān)鍵詞：四線測(cè)量；饋線補(bǔ)償；小電阻
1 引言
安捷倫萬(wàn)用表測(cè)量電阻是通過(guò)測(cè)量恒流源電流I流過(guò)被測(cè)電阻RX所產(chǎn)生的電壓Vx實(shí)現(xiàn)的。通過(guò)對(duì)Vx數(shù)字化及小數(shù)點(diǎn)移位便可得到Rx的數(shù)字化值。原理框圖如圖1：
1 引言
安捷倫萬(wàn)用表測(cè)量電阻是通過(guò)測(cè)量恒流源電流I流過(guò)被測(cè)電阻RX所產(chǎn)生的電壓Vx實(shí)現(xiàn)的。通過(guò)對(duì)Vx數(shù)字化及小數(shù)點(diǎn)移位便可得到Rx的數(shù)字化值。原理框圖如圖1：
測(cè)試時(shí)，恒流源電流I通過(guò)Hi－Lo端和測(cè)量線饋送至被測(cè)電阻Rx，電壓測(cè)量端S1、S2通過(guò)短路線接至Hi－Lo端。數(shù)字萬(wàn)用表實(shí)際測(cè)量到的電阻值包括被測(cè)電阻Rx及饋線電阻RL1和RL2。當(dāng)測(cè)量的電阻阻值較小時(shí)，饋線電阻產(chǎn)生的誤差就不容忽視。如何用現(xiàn)有的數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量阻值很小的電阻是工程技術(shù)人員經(jīng)常遇到的問(wèn)題。
2 四線測(cè)量
四線測(cè)量是將恒流源電流流入被測(cè)電阻R的兩根電流線和數(shù)字萬(wàn)用表電壓測(cè)量端的兩根電壓線分離開(kāi)，使得數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量端的電壓不再是恒流源兩端的直接電壓，如圖2所示。
從圖中可以看出，四線測(cè)量法比通常的測(cè)量法多了兩根饋線，斷開(kāi)了電壓測(cè)量端與恒流源兩端連線。由于電壓測(cè)量端與恒流源端斷開(kāi)，恒流源與被測(cè)電阻Rx、饋線RL1、RL2構(gòu)成一個(gè)回路。送至電壓測(cè)量端的電壓只有Rx兩端的電壓，饋線RL1、RL2電壓沒(méi)有送至電壓測(cè)量端。因此，饋線電阻RL1和RL2對(duì)測(cè)量結(jié)果沒(méi)有影響。饋線電阻RL3和RL4對(duì)測(cè)量有影響，但影響很小，由于數(shù)字萬(wàn)用表的輸入阻抗（MΩ級(jí)）遠(yuǎn)大于饋線電阻（Ω級(jí)），所以，四線測(cè)量法測(cè)量小電阻的準(zhǔn)確度很高。不過(guò)，四線測(cè)量中的恒流源電流的度非常關(guān)鍵。建議采用外加的更穩(wěn)定的恒流源電流；應(yīng)注意的是，外加的恒流源電流的大小要與數(shù)字萬(wàn)用表恒流源電流的大小相等。我們采用的外加的恒流源電流由高精密基準(zhǔn)電壓源MAX6250、運(yùn)放及擴(kuò)流復(fù)合管組成，如圖3所示。電壓源MAX6250的溫漂≤2ppm/℃，時(shí)漂ΔVout/t＝20ppm/1000h。
I取800μA～1mA，R是極低溫漂線繞電阻（若取I＝1mA，R＝5kΩ），這時(shí)I的溫漂和時(shí)漂相當(dāng)于MAX6250的水平。
3 饋線電阻補(bǔ)償
饋線電阻補(bǔ)償法通常采用三線制接法，被測(cè)電阻與接地的線相接。原理如圖4所示。
恒流源電流I通過(guò)饋線2流入被測(cè)電阻，饋線1接地，饋線2和3分別接運(yùn)放A1和A2的輸入端。若兩運(yùn)放的增益都為1，其輸出電壓V1和V2為：
從上式可知，饋線電阻上的附加電壓加到A3的輸入端，通過(guò)求差而消除，輸出電壓僅與被測(cè)電阻有關(guān)，且成線性關(guān)系。不管被測(cè)電阻大小如何，誤差都能*補(bǔ)償。
在這種饋線電阻補(bǔ)償法測(cè)量小電阻電路中，測(cè)量度主要取決于恒流源電流I的度和饋線電阻RL的大小是否相等。電路中的運(yùn)放可選用四通用單運(yùn)放（LM324）。當(dāng)用此法測(cè)量阻值小于0.5Ω的電阻時(shí)，應(yīng)確保RL*相等（注意饋線材料，長(zhǎng)短及焊點(diǎn)的大?。?br />
4 實(shí)驗(yàn)比較
比較分四組進(jìn)行：①用普通數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量；②用四線測(cè)量（借助于數(shù)字萬(wàn)用表本身的恒流源電流）；③用四線測(cè)量（用外加的恒流源電流）；④饋線補(bǔ)償測(cè)量。
對(duì)測(cè)量結(jié)果的比較可以看出，對(duì)于100Ω的電阻，普通數(shù)字萬(wàn)用表的測(cè)量相對(duì)誤差在2%左右，隨著電阻值變小，未經(jīng)過(guò)改進(jìn)的數(shù)字電源萬(wàn)用表的測(cè)量誤差越來(lái)越大，原因主要是饋線電阻的影響；經(jīng)過(guò)處理的數(shù)字表，測(cè)量5Ω電阻的相對(duì)誤差在2%以下，但受恒流源電流本身穩(wěn)定度的影響，②、③測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度也不一樣；而饋線補(bǔ)償法測(cè)量誤差zui小，不管饋線電阻大小如何，其測(cè)量0．1Ω的相對(duì)誤差都低于10%。
| R（Ω） | ① | ② | ③ | ④ |
| 100 | 101.8 | 100.3 | 100.1 | 100.0 |
| 50 | 52.3 | 50.2 | 50.1 | 50.0 |
| 10 | 12.1 | 10.2 | 10.1 | 10.0 |
| 5 | 6.9 | 5.1 | 5.0 | 5.0 |
| 1 | 3.2 | 1.1 | 1.07 | 1.05 |
| 0.5 | 1.8 | 0.54 | 0.52 | 0.51 |
| 0.1 | 1.3 | 0.13 | 0.12 | 0.11 |
（安捷倫萬(wàn)用表測(cè)量小電阻）
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
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- 德維創(chuàng)DEWETRON
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