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eMMC5.1測(cè)試解決方案
日期：2016-06-13瀏覽：3900次
eMMC5.1測(cè)試解決方案
主動(dòng)式探棒架構(gòu)
支援待測(cè)物頻寬zui高可達(dá)200 MHz
良好的阻抗匹配, 強(qiáng)化接地保護(hù), 降低雜訊干擾, 提升高速訊號(hào)的量測(cè)品質(zhì)、度和穩(wěn)定度
4種規(guī)格探棒, 針對(duì)不同的信號(hào)源, 可搭配使用以獲得的信號(hào)量測(cè)品質(zhì)
長(zhǎng)時(shí)間紀(jì)錄
透過(guò)USB3.0傳輸介面, 平均300 MB/s的傳輸率, 設(shè)計(jì)邏輯分析儀不間斷長(zhǎng)時(shí)間紀(jì)錄功能, 將巨量資料存在計(jì)算機(jī)硬碟上供工程師進(jìn)行問(wèn)題分析除錯(cuò), 根據(jù)不同的取樣率和通道數(shù)的設(shè)定, 可紀(jì)錄zui少約7小時(shí), zui多約800小時(shí)的資料量
eMMC5.1 / SD 3.0 LA mode 解碼與觸發(fā)
搭配探棒, 取樣率可達(dá)2GHz, 基本支援4 ch, zui大支援32 ch (選購(gòu))
注意事項(xiàng)
探棒傳輸線與主機(jī)連接port為USB3.0接口；8 port為一組觸發(fā)電壓、分為4組(A0-A7,B0-B7,C0-C7,D0-D7)、共計(jì)有32 port。每一條探棒傳輸線各自連接一組前端主動(dòng)探棒，可依原廠出貨配件的顏色區(qū)分使用。
本型號(hào)LAP-F164為32 port機(jī)種，每一支探棒zui前端具備2組訊號(hào)探測(cè)線(共64通道)。
SD/eMMC測(cè)試分析儀性能特點(diǎn)
時(shí)序分析功能(Logic Analyzer mode)
Event trigger事件觸發(fā)：3階CMD sequence事件設(shè)定；CRC error觸發(fā)；Busy Time觸發(fā)。(for eMMC)
協(xié)定封包觸發(fā)；NCR…等時(shí)序格式；1、4、8 bit數(shù)據(jù)格式；支援HS400 Mode
協(xié)議分析功能(Protocol Analyzer mode)
Events log: 小時(shí)→天等級(jí)的紀(jì)錄長(zhǎng)度(250M records)；CMD / Addr / Arg / Data / status封包結(jié)構(gòu)查找；CRC error、CMD response error問(wèn)題訊號(hào)快速查找。
自動(dòng)化測(cè)試項(xiàng)目隨JEDEC規(guī)格進(jìn)化
Device Identification Mode；Data Transfer Mode；Read/Write Data Comparison；Packet Statistics…等。
軟件仿真校正功能
軟件內(nèi)含625 ps精度時(shí)序飄移(timing shift)校正，排除微小的取樣點(diǎn)頻率誤差所造成訊號(hào)解析錯(cuò)誤。
狀態(tài)同步取樣率zui高達(dá) 200MHz
高速數(shù)字量測(cè)、追求準(zhǔn)確之*選擇
高速核心芯片設(shè)計(jì), 搭配*主動(dòng)式探棒架構(gòu), 大幅提升取樣訊
號(hào)與觸發(fā)電壓的度, 量測(cè)復(fù)雜電路與高頻訊號(hào)的*選擇,
有效減少研發(fā)時(shí)程與提升量測(cè)穩(wěn)定度
狀態(tài)取樣頻率：zui高可達(dá) 200MHz (Dual-edge)
時(shí)序取樣頻率：zui高可達(dá)1GHz,通道數(shù)： 40CH / 64CH
每信道內(nèi)存深度(bits)： 4M / 64M
6項(xiàng)硬件觸發(fā)： I2C / I2S / SPI / SVID / UART / CAN2.0B
eMMC 5.1 / SD3.0 LA mode 協(xié)議解碼與觸發(fā)
免費(fèi)支持超過(guò)110種總線協(xié)議分析
長(zhǎng)時(shí)間紀(jì)錄功能,透過(guò) USB3.0 接口，可直接儲(chǔ)存數(shù)據(jù)于硬盤
可連結(jié)他牌示波器(Tektronix, Agilent, GW Instek, …),將波形輸入到軟件內(nèi)進(jìn)行分析
可量測(cè)之待測(cè)物頻寬，zui高可達(dá) 200MHz
良好的阻抗匹配，強(qiáng)化接地保護(hù)，降低噪聲干擾，
提升高速訊號(hào)的量測(cè)質(zhì)量、度和穩(wěn)定度
支持 4 種規(guī)格：低電壓探棒、負(fù)邏輯(ECL)探棒、支援eMMC5.1/SD3.0
標(biāo)準(zhǔn) TTL 探棒
主動(dòng)式探棒
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
- ARC電池絕熱量熱儀/熱安全性能
- 德國(guó)GMC-I高美
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